太陽能教學(xué)設(shè)備可以用于硅材料檢測的一些實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目,可以用于一些硅材料技術(shù)、光伏材料加工及應(yīng)用技術(shù)專業(yè),太陽能教學(xué)設(shè)備設(shè)計(jì)精密,可以根據(jù)常用的一些測試項(xiàng)目,進(jìn)行一些硅片或相關(guān)制品的電學(xué)性能測試,一般關(guān)于硅材料的實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目有:
一、導(dǎo)電性能測試
太陽能教學(xué)設(shè)備進(jìn)行導(dǎo)電性能測試的原理是:通過半導(dǎo)體與冷、熱探筆接觸后,由于載流子的熱運(yùn)動(dòng)與溫度有關(guān),熱區(qū)的載流子熱運(yùn)動(dòng)速度大,冷區(qū)熱運(yùn)動(dòng)速度小,因此在冷、熱兩端形成空穴或自由電子的濃度差,從而產(chǎn)生溫差電動(dòng)勢來測量。
二、少子壽命的測試
太陽能教學(xué)實(shí)驗(yàn)臺采用電脈沖以及光脈沖的方法,從半導(dǎo)體內(nèi)激發(fā)非平衡載流子,調(diào)節(jié)了半導(dǎo)體的體電阻,電導(dǎo)率增加,樣品的電阻減小,因此樣品上流過的高頻電流的幅值增加,通過測量體電阻或串聯(lián)電阻兩端電壓的變化規(guī)律來觀察半導(dǎo)體材料中的非平衡少數(shù)載流子的衰減規(guī)律,從而測定其壽命。
三、進(jìn)行四探針法測試硅單晶電阻率
四探針法用針距約為1mm的四根探針同時(shí)壓在硅單晶樣品的平整表面上,利用恒流源給外面兩根探針通以電流,然后在中間兩根探針上用電位差計(jì)測量電壓降,然后根據(jù)推導(dǎo)簡化 公式,其中四根探針排列在同一條直線上,間距相等,此時(shí)探針系數(shù)就是一個(gè)常數(shù)。在實(shí)際測量工作中,為了計(jì)算方便,常常令電流I在數(shù)值上與探針系數(shù)C相等,即I=C,于是ρ=V23,此時(shí)探針2與3之間測得電位差在數(shù)值上就等于樣品的電阻率。
太陽能教學(xué)設(shè)備不僅僅可以用于硅材料檢測的實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目,其他實(shí)訓(xùn)項(xiàng)目如果您有興趣了解,咨詢上海上益。